您好!欢迎来到深圳市惠尔德电子有限公司

惠尔德

您当前所在位置:首页 > 新闻资讯

栏目导航

联系我们

咨询热线:
13510325766

手机:13602645348

邮箱:szhed88@163.com

QQ:410745931

地址:深圳市龙华新区龙华街道清华社区祥利路1号祥利工业园4栋4楼

电感脉冲测试

[时间:2018-03-19 14:26:00] [点击:605] [返回]

www.szhed.com.cn

由一个或多个线圈组合而成的电感器、变压器、马达等绕线元件,通常需求通过下列途径来完整地评价该线绕元件的品质状况:

1、线圈之绕线电阻DCR(铜阻),绕线感量(L)圈数N、圈数份额(Np/Ns),线圈间容量(Cp),铁芯状况(Q,ACR,LK)等,归于低压参数测验。上述项目运用主动变压测验体系,LCR数字电桥、圈数测验仪、直流低电阻测验仪等完结。

 

2、不同线圈间或线圈对铁芯及外壳等的耐压和绝缘程度,运用耐压测验仪和绝缘电阻测验仪。

3、线圈本身的的绝缘程度,运用脉冲式线圈测验仪(匝间绝缘测验仪)。一般出产过程中查验合格的元件,运用于电气电子产品中,即便短期功用正常,但长期运用也可能因线圈本身的绝缘欠安而发生潜在的不良要素,而影响产品的之寿数和稳定性。绝缘问题导致产品不良的体现:耐久性差,寿数短;抗噪声才能欠安;高温下稳定性不好。常见形成线圈绝缘不良的原因:漆包线,绝缘胶带或骨架绝缘不良;原始规划的出线方法或加工工艺不良;引脚间未留安全间隔或焊锡后的污染物的存在。绕线工序完毕,磁性材料参加前进行脉冲测验,可发现如下不良状况:线圈本身绝缘不良( 波形前段衰减及放电现象);绕线圈数或接线明显过错前段(Lx,前段谐振周期改变);绕线方法过错(并联电容Cx改变,后段谐振周期)。